摩擦磨损测试

1、免费喷金免费喷金（导电性弱或不导电样品），可测磁性和液体样品，粉末、液体、薄膜、块状均可。粉末10mg，块状薄膜尺寸需小于1*1*0.5cm，标明测试面。如需测试截面，请提前说明。
2、如果样品委托方要求不喷金导致测试效果不好，不安排复测。
3、请仔细检查样品，若发现以弱磁强磁充当非磁或者以强磁充当弱磁非磁，我们可能无法安排您的实验，不承担以此造成的时间和样品损失；而且因隐瞒样品信息导致仪器损失，需要您承担全部赔偿责任。
4、常规粉末需分散后再进行测试；液体样品，根据样品要求及实验室条件，随机选择滴到导电胶、硅片或铝箔上，如有指定要求请提前说明。
5、仅针对材料类样品，生物类样品另外说明。要求样品无毒、无放射性、干燥无污染、热稳定性好、耐电子束轰击。
    磁性样品：含铁、钴、镍、锰均为磁性样品，其它明显带磁性的样品。注意，磁性分硬磁和软磁，有些材料对外不表现磁性，但加磁场后容易磁化，受热后磁性增强也需要定义为磁性样品。
        强磁：吸铁石能吸起来的样品。
        弱磁：吸铁石吸不起来但是按前述定义为磁性的样品。

1、可测磁性和有机样品，HRTEM、EDS、MAPPING、可负染、加测衍射，测高分辨送普通形貌。
2、粉体、液体、块状、薄膜均可，样品的厚度不超过100nm，如果颗粒稍大一些，可适当研磨至100nm以下（可先拍SEM判断颗粒大小）。
3、一般制样选微珊铜网即可，如颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样；样品含Cu，需要拍EDS能谱和MAPPING，可选镍网或钼网等；薄膜或块状样品需客户自己制备样品（如离子减薄、包埋切片、FBI等）。
4、强磁样品要求颗粒大小不超过200nm，且不接受自己制样。
5、可做冷冻透射，球差透射，冷冻球差，需要的客户请先咨询。
        磁性样品：含铁、钴、镍、锰均为磁性样品，其它明显带磁性的样品。注意，磁性分硬磁和软磁，有些材料对外不表现磁性，但加磁场后容易磁化，受热后磁性增强也需要定义为磁性样品。
        强磁：吸铁石能吸起来的样品。
        弱磁：吸铁石吸不起来但是按前述定义为磁性的样品。
6、TEM视频连线使用的仪器型号：FEI Tecnai G2 Spirit

1、粉末提供20mg，块状和薄膜长宽厚不超过5*5*3mm。
2、小于1%的元素可能测不出明显信号！元素窄谱测试如有特殊要求请备注，没特殊说明默认测最强峰，若有最强峰和其他元素的峰有重叠，默认测次强峰。如果需要增加扫描次数，请提前沟通清楚。
3、样品制备好了进行真空密封，XPS测试样品用导电胶固定在样品台上，所以测过的粉末样品无法回收，块状样品回收可能也受到污染或者破坏，建议尽量不回收样品。

1、可测 H2、O2、CO2特殊气氛。
2、对于氮气吸附，请写清楚前处理脱气多少度多长时间、比表面积范围，如果由于样品量少导致结果不准确，我们一般不安排复测；在比表面积不知道的情况下，一般测试测试介孔需要250mg以上，全孔和微孔质量100mg以上，为方便取样，请不要用自封袋装样。
3、压汞要求：此测试样品无法回收；可测粉末或块状样品；可分析孔径范围：5nm-350um；粉末样品最好2～3克，其他样品体积1ml以上即可，块状样品尺寸不超过15*15*15mm。

1、紫外光电子能谱通过测量价层电子的能量分布从中获得有关价电子结构的各种信息，包括材料的价带谱、能带、逸出功、VB/HOMO位置以及 态密度分布等。
2、样品要求：要求是基材材质为单晶硅片（优先）、FTO、ITO等半导体材料。①样品状态：薄膜，样品平面尺寸一般要求5*5mm，最大不超过8*8mm，可以为正方形或者长方形，厚度最好不要超过1mm，样品要求具有一定导电性；②粉末样品需要制样，请提供1ml体积的样品；粉体样品需要制备为薄膜，具体制备方法及要求如下：先把粉末样品分散在水或乙醇里（浓度尽量低点），滴在硅片上烘干，可以多循环几次，一定要保证膜表面尽量平整、均匀、连续、整洁，硅片尺寸5*5mm-5*8mm，厚度几百μm，涂完膜干燥后膜层以完全覆盖住硅片即可（膜层厚度10-50nm即可），膜层的电阻最好小于10兆欧，最大不能超过30兆欧。