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TEM 透射电镜检测
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TEM 透射电镜检测
可测磁性样品、有机样品,可负染,加测衍射,HRTEM高分辨、EDS、MAPPING,测高分辨送普通形貌数据;可做冷冻透射,球差透射,冷冻球差。
售价:
¥
100.00
原价:
¥
150.00
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服务:顺丰上门取样包邮到付・ 电子发票及合同・ 1-5左右快速出结果
FEI Tecnai F30; 日本电子 JEM2100 or JEM2100F;FEI Tecnai G2 F30 S-TWIN;FEI F20(球差、冷冻、冷冻球差)
TEM
HRTEM
MAPPING
MAPPING(FEI机器)
单测EDS
加测 EDS
加测衍射
加负染
磁性加收
超薄碳膜 加收
量子点样品 加收
冷冻透射
球差透射
冷冻球差
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