紫外光电子能谱UPS
1、紫外光电子能谱通过测量价层电子的能量分布从中获得有关价电子结构的各种信息,包括材料的价带谱、能带、逸出功、VB/HOMO位置以及 态密度分布等。
2、样品要求:要求是基材材质为单晶硅片(优先)、FTO、ITO等半导体材料。①样品状态:薄膜,样品平面尺寸一般要求5*5mm,最大不超过8*8mm,可以为正方形或者长方形,厚度最好不要超过1mm,样品要求具有一定导电性;②粉末样品需要制样,请提供1ml体积的样品;粉体样品需要制备为薄膜,具体制备方法及要求如下:先把粉末样品分散在水或乙醇里(浓度尽量低点),滴在硅片上烘干,可以多循环几次,一定要保证膜表面尽量平整、均匀、连续、整洁,硅片尺寸5*5mm-5*8mm,厚度几百μm,涂完膜干燥后膜层以完全覆盖住硅片即可(膜层厚度10-50nm即可),膜层的电阻最好小于10兆欧,最大不能超过30兆欧。
2、样品要求:要求是基材材质为单晶硅片(优先)、FTO、ITO等半导体材料。①样品状态:薄膜,样品平面尺寸一般要求5*5mm,最大不超过8*8mm,可以为正方形或者长方形,厚度最好不要超过1mm,样品要求具有一定导电性;②粉末样品需要制样,请提供1ml体积的样品;粉体样品需要制备为薄膜,具体制备方法及要求如下:先把粉末样品分散在水或乙醇里(浓度尽量低点),滴在硅片上烘干,可以多循环几次,一定要保证膜表面尽量平整、均匀、连续、整洁,硅片尺寸5*5mm-5*8mm,厚度几百μm,涂完膜干燥后膜层以完全覆盖住硅片即可(膜层厚度10-50nm即可),膜层的电阻最好小于10兆欧,最大不能超过30兆欧。
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- Thermo ESCALAB 250XI
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